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  • AD-1671日本 aandd天平隔振臺
    AD-1671日本 aandd天平隔振臺

    日本 aandd天平隔振臺AD-1671 在有振動的環境中使用分析電子天平時,我們建議使用隔振臺。 ?機身尺寸:460mm x 400mm x 71mm ?體重:約27公斤 ?負載能力:約40公斤 ?材質:天然花崗巖 ?注意: 不可能完的全消除所有振動。

    更新時間:2024-08-22
  • TS-140(TP25)/TS-150(TP25)Table Stable半導體用三維主動式隔振臺系統
    TS-140(TP25)/TS-150(TP25)Table Stable半導體用三維主動式隔振臺系統

    Table Stable半導體用三維主動式隔振臺系統TS-140(TP25)/TS-150(TP25),TS 系列桌面主動式微振動控制系統,依托反向振動抵消原理削弱 0.7~100Hz 頻段震動,可自動找平、監測減振工況,能適配重心偏高、載荷不均的設備。多用于半導體檢測、精密光學實驗、顯微觀測、激光加工、精密計量場景,適配科研院所、半導體工廠、光學實驗室、精密電子質檢行業,

    更新時間:2026-07-08
  • ME-0405/0506/0806D/1007DMEIRITZ顯微鏡/納米表面分析 6自由度隔振臺
    ME-0405/0506/0806D/1007DMEIRITZ顯微鏡/納米表面分析 6自由度隔振臺

    MEIRITZ顯微鏡/納米表面分析 6自由度隔振臺ME-0405/0506/0806D/1007D 該產品主要用于消除微小環境振動,為精密儀器提供高穩定度的操作環境。廣泛適用于納米科技、半導體制造、精密光學測量、電子顯微鏡及生物醫療等對振動極其敏感的頂端行業。

    更新時間:2026-07-09
  • MiX-330 / MiX-520MEIRITZ 主動隔振防振臺 精密測量半導體用
    MiX-330 / MiX-520MEIRITZ 主動隔振防振臺 精密測量半導體用

    MEIRITZ 主動隔振防振臺 精密測量半導體用 MiX系列是一款高的端的主動式隔振系統,專為精密儀器提供穩定平臺。它通過平衡隔振與制振性能,提升測量和加工的效率與精度。主要應用于計測計量、半導體制造及精密加工等領域。

    更新時間:2026-07-21
  • AFV100 系列denshigiken自動對焦激光多普勒測振儀
    AFV100 系列denshigiken自動對焦激光多普勒測振儀

    denshigiken自動對焦激光多普勒測振儀AFV100 系列 適用于廣泛用的自動對焦功能,具有兩種操作模式:“Speedy & Just Focus”。   WIDE 模式:全范圍聚焦   NARROW 模式:快速聚焦約 1 秒

    更新時間:2024-07-10
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