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  • LL8-LED(-500)日本 SR 光纖光譜儀 LED在線測試系統
    LL8-LED(-500)日本 SR 光纖光譜儀 LED在線測試系統

    日本 SR 光纖光譜儀 LED在線測試系統 LL8-LED(-500) 是一款面向LED制造業的高性能、高靈活性光纖式光學測試系統,兼具實驗室級精度與產線級速度,特別適合需要快速反饋、批量篩選、數據追溯的應用場景。無論是研發階段的產品特性分析,還是量產過程中的品質監控,都能提供可靠支撐。

    更新時間:2026-07-15
  • LL8-LED(-500)日本SR 光纖式LED在線測試系統 光纖光譜儀
    LL8-LED(-500)日本SR 光纖式LED在線測試系統 光纖光譜儀

    日本System Road SR LED光纖式測試儀 LL8-LED(-500)日本SR 光纖式LED在線測試系統 光纖光譜儀 LL8-LED,LL8-LED(-500) 是一款面向LED制造業的高性能、高靈活性光纖式光學測試系統,兼具實驗室級精度與產線級速度,特別適合需要快速反饋、批量篩選、數據追溯的應用場景。無論是研發階段的產品特性分析,還是量產過程中的品質監控,都能提供可靠支撐。

    更新時間:2026-07-15
  • LL8-LED(-500)日本System Road  LED光纖光譜儀測試儀
    LL8-LED(-500)日本System Road LED光纖光譜儀測試儀

    日本System Road SR LED光纖式測試儀 LL8-LED(-500)日本System Road LED光纖光譜儀測試儀 LL8-LED,LL8-LED(-500) 是一款面向LED制造業的高性能、高靈活性光纖式光學測試系統,兼具實驗室級精度與產線級速度,特別適合需要快速反饋、批量篩選、數據追溯的應用場景。無論是研發階段的產品特性分析,還是量產過程中的品質監控,都能提供可靠支撐。

    更新時間:2026-07-15
  • FD-7日本konicaminolta熒光光譜密度計
    FD-7日本konicaminolta熒光光譜密度計

    日本konicaminolta熒光光譜密度計FD-7 產品概述 主要用于印刷品的反射密度和色彩管理,以及視覺評價的光源評價。 這是世界上的第一臺能夠在D50光源下考慮紙張熒光激發的顏色評估的測量儀器,符合印刷行業光譜比色和顏色計算的ISO13655標準。

    更新時間:2024-11-02
  • DOT-7日本mcrl積分球式光譜透過率測量儀
    DOT-7日本mcrl積分球式光譜透過率測量儀

    日本mcrl積分球式光譜透過率測量儀DOT-7 該裝置(DOT-7型)是DOT系列的最的新型號。我們通過更新外部并使用LED作為光源來提高測量的再現性。本裝置是一款光譜透射率計,即使對于不平坦的透明物體或半透明物體以及透鏡等漫射光的樣品,也能獲得穩定的測量。

    更新時間:2024-11-05
  • SEC2020日本als光譜儀測量系統
    SEC2020日本als光譜儀測量系統

    日本als光譜儀測量系統SEC2020 獲得關于布、紙、無紡布、薄膜等的拉伸/剪切剛度、拉伸能量、伸長率和恢復性的數據。 據說拉伸性能和剪切性能數據會影響紋理的“剛度”和“張力”。據說這些特性會影響“形狀穩定性”和“皺紋形成”。 ?KES-FB1-A 拉伸剪切試驗機 ?KES-FB1-AW 拉伸剪切試驗機(厚布用)

    更新時間:2024-07-13
  • ILT960UV-RAA4日本internationallight紫外光譜儀
    ILT960UV-RAA4日本internationallight紫外光譜儀

    日本internationallight紫外光譜儀ILT960UV-RAA4 用于測量可見光LED的光度計和用于紫外線、可見光和近紅外LED的輻射計。

    更新時間:2024-07-13
  • BTS2048-UV日本gigahertz光危害的光譜輻射儀
    BTS2048-UV日本gigahertz光危害的光譜輻射儀

    日本gigahertz光危害的光譜輻射儀BTS2048-UV 用于測量可見光LED的光度計和用于紫外線、可見光和近紅外LED的輻射計。

    更新時間:2024-07-13
  • BTS2048-UV-S日本gigahertz輻射測量的光譜輻射儀
    BTS2048-UV-S日本gigahertz輻射測量的光譜輻射儀

    日本gigahertz輻射測量的光譜輻射儀BTS2048-UV-S 用于測量可見光LED的光度計和用于紫外線、可見光和近紅外LED的輻射計。

    更新時間:2024-07-13
  • GP系列日本otsukael光譜分布測量系統
    GP系列日本otsukael光譜分布測量系統

    日本otsukael光譜分布測量系統 GP系列 通過光學方法可以進行非接觸式和非破壞性的厚度測量。 實現高測量再現性 可實時高速監控拋光 實現了長 WD(工作距離)并且易于集成到設備中 從主機設備使用 LAN 通過 TCP/IP 通信進行控制 可以進行多層厚度測量 可測量臨時晶圓(臨時鍵合晶圓)各層厚度

    更新時間:2024-07-12
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