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日本toyo-medic電磁涂膜測厚儀Surfix系列 豐富的替換探頭 支持測量厚度達 200 μm 的薄層（*使用 FN0.2 探頭時） 特殊用途探頭，如耐酸探頭、角探頭、管/槽探頭等。 高溫腳支持高達 300°C 的測量 單值和統計值的顯示
更新時間：2024-07-13
日本toyo-medic雙聯型涂膜測厚儀Surfix系列 豐富的替換探頭 支持測量厚度達 200 μm 的薄層（*使用 FN0.2 探頭時） 特殊用途探頭，如耐酸探頭、角探頭、管/槽探頭等。 高溫腳支持高達 300°C 的測量 單值和統計值的顯示
更新時間：2024-07-13
日本otsukael 顯微分光膜厚儀OPTM系列 OPTM 是一種通過使用顯微鏡光譜測量微小區域的絕對反射率來實現高精度薄膜厚度和光學常數分析的設備。 各種薄膜、晶圓、光學材料等鍍膜、多層膜厚度的無損、非接觸測量。可以進行1秒/點的高速測量。此外，它配備了軟件，即使是初次使用的用戶也可以輕松分析光學常數。
更新時間：2024-07-12
Luna在線傳感器頭TeraMetrix T-Gauge 測厚 HXC50yn，該傳感器用于工業在線測量厚度、克重及多層結構，適用于 roofing、航空航天、薄膜涂布等行業的無損檢測與過程控制。
更新時間：2026-06-15
photonic-lattice厚度/折射率分布橢偏儀SE 系列 這是一款高速映射橢圓儀，可以測量 φ8″ 晶圓的整個表面（最大?300 mm 是可選的），可以高速和高密度測量 1 nm 或更小的膜厚度變化。它 支持各種膜厚分布測量。
更新時間：2024-07-11
photonic-lattice厚度/折射率測量橢偏儀 ME 系列 這是一款高速映射橢圓儀，可以測量 φ8″ 晶圓的整個表面（最大?300 mm 是可選的），可以高速和高密度測量 1 nm 或更小的膜厚度變化。它 支持各種膜厚分布測量。
更新時間：2024-07-11
日本sasaki-koki非接觸式測厚儀OZUMA CL 應用 半導體晶圓（各種材質）硅、Si.GaAs、砷化鎵、金屬、化合物等高精度非接觸式厚度測量（非接觸式厚度測量） 特點 1.激光方法允許非接觸式厚度測量（非接觸式厚度測量）并且不會造成劃痕或污染等損壞 2。可實現高精度非接觸式厚度測量（非接觸式厚度測量） 3.可重復測量厚度、翹曲度、平行度等。
更新時間：2024-10-12
日本 jfe膜厚分布測量裝置FDC-H1510 特征 1.能夠測量6英寸晶圓的整個表面 2.能夠以高分辨率（約5μm）測量整個樣品表面和局部厚度 3.緊湊的設計，可安裝在桌面上 4.基于高分辨率的局部測量 由于可以6um的高分辨率測量約3mm角，因此適用于需要局部測量的器件圖案上等膜厚分布測量。 5.最大6英寸的全面測量
更新時間：2024-08-29
日本 jfe膜厚分布測量裝置 S系列標準型號 特征 1.2分鐘內100萬至400萬點的高速測量和膜厚計算 2.可應用于多種應用，產品陣容豐富 3.適用于從研發到缺陷檢查 主要用途 薄膜模型：SiO2膜、濺射膜、抗蝕劑、液膜、油膜、涂膜 厚膜模型：各種晶圓、PET薄膜、其他薄膜、玻璃等。 超厚膜模型：各種晶圓、塊狀晶圓、薄膜、玻璃等。
更新時間：2024-08-29
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