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日本kyowaopt微距變焦同軸落射照明內置型EMZ-A 焦點合成、2D/3D測量、光暈去除/HDR、自動形狀測量/粒子計數等、2D/3D圖像與XY/Z電動載物臺聯動、拍攝條件的保存/加載、超多照明（單側照明） 、1/4 分割照明、混合照明等）和其他行業的高級功能。
更新時間：2024-07-12
日本kyowaopt工業多功能變焦鏡頭IMZ-FA 焦點合成、2D/3D測量、光暈去除/HDR、自動形狀測量/粒子計數等、2D/3D圖像與XY/Z電動載物臺聯動、拍攝條件的保存/加載、超多照明（單側照明） 、1/4 分割照明、混合照明等）和其他行業的高級功能。
更新時間：2024-07-12
日本asahikogakuki數碼顯微鏡MS-300 焦點合成、2D/3D測量、光暈去除/HDR、自動形狀測量/粒子計數等、2D/3D圖像與XY/Z電動載物臺聯動、拍攝條件的保存/加載、超多照明（單側照明） 、1/4 分割照明、混合照明等）和其他行業的高級功能。
更新時間：2024-07-12
日本konicaminolta色彩照度計CL-200A 產品概述日本NIPPON DENSHOKU 光澤度計 反射率儀表 主要用于測量LED、OLED等各類照明、投影儀等的色度、相關色溫、照度、主波長、刺激純度等。 這是一款小型、輕量的手持式測量儀器，符合 JIS AA 級標準。
更新時間：2025-02-21
日本otsukael光譜分布測量系統 GP系列 通過光學方法可以進行非接觸式和非破壞性的厚度測量。 實現高測量再現性 可實時高速監控拋光 實現了長 WD（工作距離）并且易于集成到設備中 從主機設備使用 LAN 通過 TCP/IP 通信進行控制 可以進行多層厚度測量 可測量臨時晶圓（臨時鍵合晶圓）各層厚度
更新時間：2024-07-12
日本otsukael光譜干涉式晶圓測厚儀SF-3 通過光學方法可以進行非接觸式和非破壞性的厚度測量。 實現高測量再現性 可實時高速監控拋光 實現了長 WD（工作距離）并且易于集成到設備中 從主機設備使用 LAN 通過 TCP/IP 通信進行控制 可以進行多層厚度測量 可測量臨時晶圓（臨時鍵合晶圓）各層厚度
更新時間：2024-07-12
日本otsukael 顯微分光膜厚儀OPTM系列 OPTM 是一種通過使用顯微鏡光譜測量微小區域的絕對反射率來實現高精度薄膜厚度和光學常數分析的設備。 各種薄膜、晶圓、光學材料等鍍膜、多層膜厚度的無損、非接觸測量。可以進行1秒/點的高速測量。此外，它配備了軟件，即使是初次使用的用戶也可以輕松分析光學常數。
更新時間：2024-07-12
日本otsukael 高靈敏度光譜輻射儀 HS-1000 能夠測量從0.005cd/m2的超低亮度到400,000cd/ m2的高亮度 支持 CIE 推薦的寬波長范圍（355nm 至 835nm） 專有光學系統減少了偏光誤差 (1%)， 可以
更新時間：2024-07-12
日本otsukael多通道光譜儀 MCPD-9800/6800 這是一款涵蓋紫外到近紅外區域的多功能多通道光譜檢測器。光譜測量可在短至 5 毫秒內完成。標準設備的光纖可用于各種測量系統，無需樣品類型。除了顯微光譜、光源發射和透射/反射測量外，它還可以與軟件結合使用，用于物體顏色評估和薄膜厚度測量。能夠從低亮度到高亮度進行高速、高精度測量的光譜輻射亮度計。
更新時間：2024-07-12
日本otsukael Zeta 電位/粒徑測量系統 ELSZneoSE 可根據應用增加功能（分子量測量、顆粒濃度測量、微流變學測量、凝膠網絡結構分析、粒徑多角度測量）。 使用標準流通池連續測量粒徑和 zeta 電位 可在從稀溶液到濃溶液（高達 40%）的寬濃度范圍內測量粒徑和 zeta 電位
更新時間：2024-07-12
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