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產品分類工業相機視覺檢測光源 測玻璃薄膜外觀缺陷 電通DSK / LP160-M-310310H,LP160系列是一款高亮度LED透射照明裝置,專為工業視覺檢測設計。它利用背光原理,檢測透明或半透明物體的針孔、氣泡、異物等外觀缺陷,或進行輪廓尺寸測量。主要應用于LCD面板、光學薄膜、電路板及相機模組等行業的精密檢測。
更新時間:2026-07-21這款LEDMOD V2高功率LED模塊專為工業和科研領域設計,提供從深紫外到近紅外的40多種波長選擇。其憑借高穩定性、高速調制和靈活控制等特性,廣泛應用于顯微鏡、化學分析、光譜學及法醫學等精密領域。 Omicron 工業科研級光源 顯微鏡/光譜分析用
更新時間:2026-07-24omicron 模塊化LED熒光激發光源/化學分析用 LedHUB® 是一款用于生物技術、工業及分析領域的多波長高功率LED光源。它適用于寬場顯微鏡、光遺傳學、化學分析及法醫學等場景。
更新時間:2026-07-24inside圓頂光源SMI-CD-116-01 圓頂光源是一種漫反射無影光源。優化結構后排列的LED發出的光經球面漫反射后,平滑均勻地照射到被測物體表面。該系列光源具有較大的光擴散面,可以均勻地照射被測物體。適用于具有起伏和反光表面的物體,即使是彎曲的金屬表面也能得到均勻的照明。
更新時間:2024-07-12inside線性光源SMI-BL-10017-01 線光源采用大功率高亮度LED,通過特殊透鏡形成高亮度、高均勻度的光帶。照射長度可達3米,可根據檢測特征的寬度設計。是線陣相機的最佳搭檔。
更新時間:2024-07-12inside同軸光源SMI-CC-100-01 高密度LED陣列發出高強度均勻光線,特殊鍍膜的半鏡面使反射在工件上的光線與CCD相機在同一軸上,可以消除拍攝圖像的重影。該系列光源光分布非常均勻,適用于光滑工件表面的劃痕檢測。
更新時間:2024-07-12inside面光源SMI-CFK-100-01 面光源是 用于表面的照明光源。結構優化后,LED均勻分布在底部或光源周圍。導光板擴散后,在表面形成均勻的照明光,亮度提高20%至50%,優于競爭對手。此光源適用于輪廓檢測。
更新時間:2024-07-12inside點光源SMI-CP-8R-01 點光源亮度高,發光面積小。頂部直徑為8mm或9mm、出光面直徑為6mm的點光源可單獨用于機器視覺系統,也可與顯微鏡或具有同軸功能的遠心鏡配套使用。
更新時間:2024-07-12inside環形燈SMI-RL-4090-01 環形光源由LED陣列經優化結構設計而成,性能穩定,安裝方便。以各種角度和顏色組合直接照射被測物體,可以避免陰影,突出成像特性。它還可以與擴散器結合使用,使光線更加均勻和柔和。它是機器視覺中使用廣泛的光源之一。
更新時間:2024-07-12sutterLED 透射光源Lambda TLED / TLED+ Lambda TLED 和 TLED+ 是獨立的 LED 光源,可與顯微鏡的透射光路或具有類似要求的其他應用一起使用。 基本系統由安裝在特殊黑色陽極氧化鋁散熱器上的 LED 和控制器組成。TLED 和 TLED+ 控制器均由堅固的模塊化通用電源供電。控制器通過撥動開關或 TTL 邏輯提供強度控制和開關控制。使用 TTL 控制時,
更新時間:2024-07-12