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產品分類日本shibaura 皮拉尼真空計PG 系列 PG系列特點 1.不易發生故障的固定溫度型 2.大型數字顯示屏,可視性良好 3.機身較小,節省空間
更新時間:2024-09-02日本add -120℃超低溫冷凍柜 YFZ-1423 模型:YFZ-1423 電氣規格-電源電壓:三相AC200V 50/60Hz額定值:峰值時約10.5A / -120℃穩定時約8.5A功耗:穩定時最大3.0kW / 2.7kW 性能規格:冷卻性能:-120℃至-130℃,制冷劑:特殊混合制冷劑(HFC),環境溫度:10℃至28℃
更新時間:2024-09-02日本moritex LED照明MCEC-CR8 ? 追求與MML的兼容性并實現高度的一致性。 ? 比MCEL-C*8 更高的照度(參見Pi-61 照度比較數據) ? 緊湊 ? 價格低廉 ? 使用MLEK 電源(參見Pi-62~)。可與多通道電源以及環形照明和背光一起使用
更新時間:2024-10-08日本konicaminolta分光光度計CM-36dGV 日本電色NIPPON DENSHOKU 排水色顏色污染計 主要用于粉末、顏料、紙張、紡織品等的色彩管理。 可以同時測量顏色和光澤,同時保持與 CM-3610A 的數據兼容性(*使用 SCI/LAV 時) 使用場景:紡織/服裝
更新時間:2025-02-22日本kohzu 自動旋轉臺 RA04A-W01 機械規格 模型:RA04A-W01 型號:RA04A-W01-R 指導方法:角軸承 旋轉范圍:±177° 分辨率 微步(1/20 格):0.0002° 最大速度:20°/秒 累計誤差:。≦0.02°/360° (平均0.0071°/360°) 偏轉:≦20μm/360° (平均6.96μm/360°)
更新時間:2024-09-02日本rikenkeiki 便攜式組合X射線分析儀 DF-01 1.XRD、XRF,同一點兩種分析。可以在同一點進行 X 射線衍射 (XRD) 和 X 射線熒光 (XRF) 兩種類型的分析。換句話說,可以從使用兩種不同測量方法獲得的數據中獲得高度準確的信息。 2.非破壞性、非接觸式便攜式分析設備。利用無損、非接觸的分析方法,我們可以分析那些限制移動或出口的文物和文化資產……即使是所謂的“禁止
更新時間:2024-08-30日本 jfe膜厚分布測量裝置FDC-H1510 特征 1.能夠測量6英寸晶圓的整個表面 2.能夠以高分辨率(約5μm)測量整個樣品表面和局部厚度 3.緊湊的設計,可安裝在桌面上 4.基于高分辨率的局部測量 由于可以6um的高分辨率測量約3mm角,因此適用于需要局部測量的器件圖案上等膜厚分布測量。 5.最大6英寸的全面測量
更新時間:2024-08-29日本konicaminolta分光光度計CM-36dGV 日本NIPPON DENSHOKU 光譜顏色濁度測量儀器 主要用于粉末、顏料、紙張、紡織品等的色彩管理。 可以同時測量顏色和光澤,同時保持與 CM-3610A 的數據兼容性(*使用 SCI/LAV 時) 使用場景:紡織/服裝
更新時間:2025-02-22日本kitzsct半導體 低壓自動隔膜閥 KD系列 產品概述:低壓隔膜的旗艦型號,適用于半導體用高純度氣體。 參考型號:KD4CS-VC-EP-316L 規格概要 閥門形狀:直通二通閥 尺寸:1/4“ 最的低流體溫度(℃):-10 最高流體溫度(℃):80 最的低環境溫度(℃):-10 最高環境溫度(℃):60 最大工作壓力(MPa):0.98 材質:聚四氟乙烯
更新時間:2024-09-03日本rikenkeiki便攜式氣體泄漏檢測儀SP-230 TYPE L 特征: ?配備LED燈/按鈕背光燈 ?一鍵在LED燈、警報聲音和警報點之間切換 ?配備Bluetooth®!用智能手機輕松管理數據,通過2m跌落測試,防護等級相當于IP67/本質安全防爆結構
更新時間:2024-08-29